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HPS2510-256精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差。

HPS2510-64精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差。

HPS2510-48精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差。

HPS2510-32精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差。

HPS5130精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差。

HPS2510-24精密多路電阻測試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測量技術(shù)，很好地消除了熱電對被測元件接觸的影響而引起的潛在誤差。